高低溫試驗(yàn)箱適用工業(yè)品高低溫試驗(yàn)的可靠性測(cè)試，是對(duì)電工電子、轎車摩托車、航天航空、船只武器、高等學(xué)校、科研機(jī)構(gòu)等相關(guān)產(chǎn)品的零部件及原材料在高、超低溫交替變化循環(huán)系統(tǒng)轉(zhuǎn)變的狀況下，檢測(cè)其各類性能參數(shù)。
 

 

　　高低溫試驗(yàn)箱的溫度校正有下列方式，在具體工作上必須依據(jù)具體情況挑選適合的方式，下邊我企業(yè)便對(duì)這幾類校正方式的優(yōu)點(diǎn)和缺點(diǎn)開(kāi)展詳細(xì)介紹。

 

　　一、在無(wú)負(fù)荷標(biāo)準(zhǔn)下進(jìn)行校正：此方式的優(yōu)勢(shì)是：高低溫試驗(yàn)箱的全部工作中地區(qū)都獲得了校正、檢測(cè)試品越來(lái)越更時(shí)不用再次校正、可以對(duì)高低溫試驗(yàn)箱的適用范圍作出合理的評(píng)定。而它的關(guān)鍵缺陷是：不可以評(píng)定檢測(cè)試品對(duì)環(huán)境試驗(yàn)箱所導(dǎo)致的危害。

 

　　二、在有負(fù)荷標(biāo)準(zhǔn)下進(jìn)行校正：此方式的優(yōu)勢(shì)是：可以較為精確地評(píng)定檢測(cè)試品對(duì)環(huán)境試驗(yàn)箱特性的危害、便于獲得檢測(cè)試品核心部件或位置的自然環(huán)境實(shí)驗(yàn)的詳細(xì)資料。而它的關(guān)鍵缺陷是：當(dāng)拆換檢測(cè)試品時(shí)，必須再次校正。

 

　　三、在應(yīng)用全過(guò)程中的即時(shí)精確測(cè)量：此方式不但具備1和2上述的方式具備的優(yōu)勢(shì)，并且可以獲得檢測(cè)試品在自然環(huán)境實(shí)驗(yàn)全過(guò)程中全方位的環(huán)境參數(shù)，通常在對(duì)自然環(huán)境規(guī)定很高的商品實(shí)驗(yàn)時(shí)選用。它的關(guān)鍵缺陷是：每一次自然環(huán)境實(shí)驗(yàn)都必須應(yīng)用測(cè)量設(shè)備，一般在環(huán)境試驗(yàn)箱校正時(shí)選用無(wú)負(fù)荷標(biāo)準(zhǔn)下的校正方式，文中為了更好地便于評(píng)定環(huán)境試驗(yàn)箱的溫度特性，也選用了此方式開(kāi)展剖析。